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Banco de entrenamiento en electrónica básica (DLDZ-165E)

El entrenador de electrónica básica DLDZ-165E incluye un módulo de capacitación tanto para electrónica digital como para electrónica analógica. Gracias a su amplia gama de módulos de experimentación, puede utilizarse como un equipo de capacitación en electrónica ideal para laboratorios de electrónica. Además, este equipo de laboratorio electrónico cuenta con múltiples métodos de protección, como protección contra cortocircuitos, protección contra sobrecargas, conexión a tierra, protección contra fugas a tierra, parada de emergencia y otras medidas de seguridad.

Banco de entrenamiento en electrónica básica

Configuración

El sistema de evaluación de capacitación en electrónica se compone de un módulo de fuente de alimentación, un módulo de alimentación regulada, un módulo de fuente de señal, un módulo de medición, un módulo de capacitación para experimentos de circuitos digitales y analógicos, una caja de experimentos de circuitos, un módulo de chip digital, entre otros.

Proyectos de formación
    • Experimento de entrenamiento en circuito digital
    • Entrenamiento en circuito analógico
    • Experimento de entrenamiento con amplificador operacional
    • Capacitación en pruebas de parámetros y funciones lógicas de puertas lógicas de integración TTL
    • Función lógica de puertas lógicas
    • Amplificador de potencia
    • Comprensión y entrenamiento sobre filtros
    • Experimento de aplicación TTL y CMOS
    • Capacitación sobre el uso de registros de contadores
    • Experimento con regulador de voltaje
    • Uso del oscilador de onda sinusoidal
    • Experimento de aplicación de codificador, entre otros.
 
1. Serie de circuitos analógicos
    • Amplificador monotubo con emisor común y transistor
    • Amplificadores de válvulas de efecto de campo
    • Amplificador de retroalimentación negativa
    • Seguidor de emisor
    • Amplificadores diferenciales
    • Experimento con amplificador de dos etapas con transistores
    • Experimento de prueba del indicador de amplificador operacional integrado
    • Aplicación básica del amplificador operacional integrado: experimento de circuito de operación analógica
    • Aplicación básica del amplificador operacional integrado: experimento con generador de formas de onda
    • Experimento del oscilador de onda sinusoidal RC
    • Experimento del oscilador de onda sinusoidal LC
    • Fuente de alimentación estabilizada de CC: experimento de fuente de alimentación regulada por transistores
    • Fuente de alimentación regulada de CC: experimento con regulador de voltaje integrado
    • Amplificador de potencia de baja frecuencia: experimento con amplificador de potencia integrado
2. Partes del circuito digital
    • El transistor: características de conmutación, limitador y circuito de sujeción
    • Prueba de funcionamiento de circuitos de puertas lógicas TTL
    • Prueba de función lógica y parámetros de la puerta lógica integrada TTL
    • Experimento de prueba de puerta con colector abierto TTL y puerta de salida de tres estados
    • Experimento de prueba de parámetros del circuito de puerta lógica integrada CMOS
    • Experimento de prueba de función lógica del circuito de puerta lógica integrada CMOS
    • Conexión y accionamiento de circuitos lógicos integrados
    • Codificador y su experimento de aplicación
    • Diseño y prueba de lógica combinacional
    • Decodificador y su aplicación
    • Selector de datos y su aplicación
    • Experimento de sumador y comparador numérico
    • Biestables (Flip-Flops) y sus aplicaciones
    • Experimento de visualización con tubos digitales
    • Contadores y sus aplicaciones
    • Registros de desplazamiento y su aplicación
    • Distribuidor de pulsos y su aplicación
    • Uso de un circuito de puerta para generar una señal de pulso: multivibrador autoexcitado
    • Disparador monoestable y disparador Schmitt: circuito de retardo de pulso y modelado de forma de onda
    • Experimento con multivibrador
    • Circuito de base de tiempo 555 y su aplicación
    • Convertidor D/A y A/D: experimento completo