Entrenador de electrónica básica (DLDZ-165E)

El sistema de evaluación de capacitación en electrónica se compone de un módulo de fuente de alimentación, un módulo de alimentación regulada, un módulo de fuente de señal, un módulo de medición, un módulo de capacitación para experimentos de circuitos digitales/analógicos, una caja de experimentos de circuitos, un módulo de chip digital, etc.

• • Experimento de entrenamiento en circuito digital
  • Entrenamiento de circuito analógico
  • Experimento de entrenamiento con amplificador operacional
  • Capacitación en pruebas de parámetros y funciones lógicas de puerta lógica de integración TTL
  • Función lógica de puerta lógica
  • Amplificador de potencia
  • Filtrar cognición y entrenamiento
  • Experimento de aplicación TTL y CMOS
  • Capacitación sobre el uso del registro de contadores
  • Experimento con regulador de voltaje
  • Uso del oscilador de onda sinusoidal
  • Experimento de aplicación de codificador, etc.

• • Serie de circuitos analógicos
    • Amplificador monotubo con emisor común y transistor
    • Amplificadores de válvulas de efecto de campo
    • Amplificador de retroalimentación negativa
    • Seguidor del emisor
    • Amplificadores diferenciales
    • Experimento con amplificador de dos etapas a transistores
    • Experimento de prueba de indicador de amplificador operacional integrado
    • Aplicación básica del amplificador operacional integrado: experimento de circuito de operación analógica
    • Aplicación básica del amplificador operacional integrado: experimento con generador de formas de onda
    • Experimento del oscilador de onda sinusoidal RC
    • Experimento del oscilador de onda sinusoidal LC
    • Fuente de alimentación estabilizada de CC: experimento de fuente de alimentación regulada por transistores
    • Fuente de alimentación regulada por CC: experimento con regulador de voltaje integrado
    • Amplificador de potencia de baja frecuencia: experimento con amplificador de potencia integrado

• • Partes del circuito digital
    • El transistor cambia las características, el limitador y el circuito de sujeción
    • Prueba de funcionamiento de circuitos de puerta lógica TTL
    • Prueba de función lógica y parámetros de la puerta lógica integrada TTL
    • Experimento de prueba de puerta abierta del colector TTL y puerta de salida de tres estados
    • Experimento de prueba de parámetros del circuito de puerta lógica integrada CMOS
    • Experimento de prueba de función lógica del circuito de puerta lógica integrada CMOS
    • Conexión y accionamiento de circuitos lógicos integrados
    • Encoder y su experimento de aplicación
    • Diseño y prueba de lógica combinatoria
    • Decodificador y su aplicación
    • Selector de datos y su aplicación
    • Experimento de sumador y comparador numérico
    • Desencadenantes y sus aplicaciones
    • Experimento de visualización de tubos digitales
    • Contadores y sus aplicaciones
    • Registro de turnos y su aplicación
    • Distribuidor de pulsos y su aplicación
    • Usar un circuito de puerta para generar una señal de pulso (multivibrador autoexcitado)
    • Disparador monoestable y disparador Schmitt – Circuito de retardo de pulso y modelado de forma de onda
    • Experimento multivibrador
    • Circuito de base de tiempo 555 y su aplicación
    • Convertidor DA/AD: experimento completo